不斷進(jìn)取，砥礪前行

丹東百特儀器有限公司在納米粒度及Zeta電位測(cè)試領(lǐng)域不斷進(jìn)步，推出了新一代全功能，高自動(dòng)化測(cè)試儀器，BeNano 180 Zeta Pro。BeNano 180 Zeta Pro在全面的多角度光路系統(tǒng)和測(cè)試功能基礎(chǔ)上，還可以與最新推出的自動(dòng)滴定儀BAT-1連用，從事實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、高效的粒徑和電位的趨勢(shì)化檢測(cè)能力。

完美輸出——BeNano 180 Zeta Pro

不斷積累，與時(shí)俱進(jìn)

從2010年丹東百特開(kāi)始投入研發(fā)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，到2012年首臺(tái)國(guó)產(chǎn)納米粒度儀研制成功正式面世，再到丹東百特將納米粒度技術(shù)與Zeta電位技術(shù)集成，陸續(xù)推出BeNano 90 Zeta和BeNano 180 Zeta，直至最近全新開(kāi)發(fā)的BeNano 180 Zeta Pro，百特經(jīng)過(guò)數(shù)十年不斷研發(fā)投入，將該類儀器的核心技術(shù)完全掌握，并形成了系列化型號(hào)以滿足多樣的市場(chǎng)需求。BeNano系列優(yōu)異的性能達(dá)到了國(guó)際同類設(shè)備水平，其應(yīng)用范圍覆蓋藥物釋放體系、脂質(zhì)體、水凝膠、微乳液、乳液、高分子溶液、蛋白質(zhì)樣品、納米金顆粒等等，多樣化的檢測(cè)能力覆蓋粒徑、Zeta電位、分子量、趨勢(shì)、粘度、折光率、相互作用力因子、微觀流變學(xué)等測(cè)試需求。

BeNano 180 Zeta Pro 光路系統(tǒng)

BeNano 180 Zeta Pro中融合了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)、靜態(tài)光散射技術(shù)和電泳光散射技術(shù)。

1、動(dòng)態(tài)光散射DLS

采用173°背向散射技術(shù)或者經(jīng)典90°光路進(jìn)行粒徑測(cè)試。173°可以有效避免多重光散射效應(yīng)，準(zhǔn)確得到較高濃度下樣品的粒徑信息。同時(shí)173°光路具有更大的散射體積，可以提供高于90°光路8-10倍的靈敏度。90°光路可以實(shí)現(xiàn)極小的散射體積，最小所需樣品量?jī)H為3 μL。

2、電泳光散射ELS

采用國(guó)際當(dāng)代最先進(jìn)的相位分析光散射技術(shù)PALS，通過(guò)鎖相放大技術(shù)解析散射光信號(hào)，有效檢測(cè)極低電泳遷移率樣品的Zeta電位信息，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)于等電點(diǎn)附近樣品及高鹽濃度下樣品的準(zhǔn)確Zeta電位檢測(cè)。該型號(hào)設(shè)備采用可拋棄毛細(xì)管電極，具有樣品用量少，成本低，電場(chǎng)均勻，避免交叉污染，可以檢測(cè)高濃度樣品等特點(diǎn)。

3、靜態(tài)光散射SLS

通過(guò)檢測(cè)樣品的散射光強(qiáng)從而得到高分子、蛋白質(zhì)等物質(zhì)分子量信息的光學(xué)技術(shù)。當(dāng)激光照射到大分子樣品溶液上，大分子會(huì)向各個(gè)方向發(fā)出散射光，通過(guò)在不同的濃度下檢測(cè)散射光強(qiáng)度，利用Debye曲線外推得到樣品的絕對(duì)分子量和第二維利系數(shù)。

正是以上技術(shù)的加持成就了BeNano 180 Zeta Pro的強(qiáng)大檢測(cè)能力。

強(qiáng)大的自動(dòng)化測(cè)試附件 — BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可與BeNano系列納米粒度及Zeta電位儀連用，對(duì)于樣品進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試。

BeNano 180 Zeta Pro和BAT-1自動(dòng)滴定儀連用（左）測(cè)試結(jié)果（右）

例如氧化鋁漿料可用于鋰電隔膜涂覆、藍(lán)寶石襯底拋光等。作為極性化合物，氧化鋁顆粒物在液體介質(zhì)中受范德華力、靜電力等因素的相互影響，顆粒間可能發(fā)生團(tuán)聚，因此對(duì)于氧化鋁顆粒表面的改性和體系穩(wěn)定性的考察是十分必要。Zeta電位是顆粒表面化學(xué)的體現(xiàn)，依賴于顆粒表面的化學(xué)組成和周圍溶液環(huán)境。不同的pH值下，體系的Zeta電位不同。可以通過(guò)BeNano主機(jī)和BAT-1滴定儀自動(dòng)表征一個(gè)氧化鋁樣品在不同pH條件下的Zeta電位信息。氧化鋁在等電點(diǎn)附近Zeta電位絕對(duì)值較低，體系處于不穩(wěn)定狀態(tài)。而當(dāng)pH較高時(shí)其體系的Zeta電位絕對(duì)值較高，處于相對(duì)穩(wěn)定狀態(tài)。

小結(jié)

納米粒度及Zeta電位和滴定儀連用具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)，并且可以自動(dòng)的檢測(cè)樣品的等電點(diǎn)IEP。由于盛放樣品的毛細(xì)管電極成本低、可拋棄，還避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

粉體圈 郜白

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