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推動準確高效的納米粒度及Zeta電位測試——丹東百特全新測試利器登場

發布時間 | 2023-03-14 16:35 分類 | 行業要聞 點擊量 | 1004
百特 粒度儀 氧化鋁
導讀:納米粒度及Zeta電位和滴定儀連用具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點,并且可以自動的檢測樣品的等電點IEP。由于盛放樣品的毛細管電極成本低、可拋棄,還避免了交叉...

不斷進取,砥礪前行

丹東百特儀器有限公司在納米粒度及Zeta電位測試領域不斷進步,推出了新一代全功能,高自動化測試儀器,BeNano 180 Zeta Pro。BeNano 180 Zeta Pro在全面的多角度光路系統和測試功能基礎上,還可以與最新推出的自動滴定儀BAT-1連用,從事實現準確、高效的粒徑和電位的趨勢化檢測能力。

完美輸出——BeNano 180 Zeta Pro

BeNano 180 Zeta Pro

不斷積累,與時俱進

從2010年丹東百特開始投入研發動態光散射技術,到2012年首臺國產納米粒度儀研制成功正式面世,再到丹東百特將納米粒度技術與Zeta電位技術集成,陸續推出BeNano 90 Zeta和BeNano 180 Zeta,直至最近全新開發的BeNano 180 Zeta Pro,百特經過數十年不斷研發投入,將該類儀器的核心技術完全掌握,并形成了系列化型號以滿足多樣的市場需求。BeNano系列優異的性能達到了國際同類設備水平,其應用范圍覆蓋藥物釋放體系、脂質體、水凝膠、微乳液、乳液、高分子溶液、蛋白質樣品、納米金顆粒等等,多樣化的檢測能力覆蓋粒徑、Zeta電位、分子量、趨勢、粘度、折光率、相互作用力因子、微觀流變學等測試需求。

BeNano 180 Zeta Pro 光路系統

BeNano 180 Zeta Pro 光路系統

BeNano 180 Zeta Pro中融合了動態光散射技術、靜態光散射技術和電泳光散射技術。

1、動態光散射DLS

采用173°背向散射技術或者經典90°光路進行粒徑測試。173°可以有效避免多重光散射效應,準確得到較高濃度下樣品的粒徑信息。同時173°光路具有更大的散射體積,可以提供高于90°光路8-10倍的靈敏度。90°光路可以實現極小的散射體積,最小所需樣品量僅為3 μL。

2、電泳光散射ELS

采用國際當代最先進的相位分析光散射技術PALS,通過鎖相放大技術解析散射光信號,有效檢測極低電泳遷移率樣品的Zeta電位信息,從而實現了對于等電點附近樣品及高鹽濃度下樣品的準確Zeta電位檢測。該型號設備采用可拋棄毛細管電極,具有樣品用量少,成本低,電場均勻,避免交叉污染,可以檢測高濃度樣品等特點。

3、靜態光散射SLS

通過檢測樣品的散射光強從而得到高分子、蛋白質等物質分子量信息的光學技術。當激光照射到大分子樣品溶液上,大分子會向各個方向發出散射光,通過在不同的濃度下檢測散射光強度,利用Debye曲線外推得到樣品的絕對分子量和第二維利系數。

正是以上技術的加持成就了BeNano 180 Zeta Pro的強大檢測能力。

強大的自動化測試附件 BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位對于分散液介質環境具有強烈的依賴性,尤其是環境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可與BeNano系列納米粒度及Zeta電位儀連用,對于樣品進行自動化的酸堿滴定測試。

BeNano 180 Zeta Pro和BAT-1自動滴定儀

BeNano 180 Zeta Pro和BAT-1自動滴定儀連用(左)測試結果(右)

例如氧化鋁漿料可用于鋰電隔膜涂覆、藍寶石襯底拋光等。作為極性化合物,氧化鋁顆粒物在液體介質中受范德華力、靜電力等因素的相互影響,顆粒間可能發生團聚,因此對于氧化鋁顆粒表面的改性和體系穩定性的考察是十分必要。Zeta電位是顆粒表面化學的體現,依賴于顆粒表面的化學組成和周圍溶液環境。不同的pH值下,體系的Zeta電位不同。可以通過BeNano主機和BAT-1滴定儀自動表征一個氧化鋁樣品在不同pH條件下的Zeta電位信息。氧化鋁在等電點附近Zeta電位絕對值較低,體系處于不穩定狀態。而當pH較高時其體系的Zeta電位絕對值較高,處于相對穩定狀態。

小結

納米粒度及Zeta電位和滴定儀連用具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點,并且可以自動的檢測樣品的等電點IEP。由于盛放樣品的毛細管電極成本低、可拋棄,還避免了交叉污染的風險。


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作者:粉體圈

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