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針狀(晶須)粉體長(zhǎng)徑比測(cè)試方法簡(jiǎn)介

發(fā)布時(shí)間 | 2015-08-05 09:00 分類 | 粉體加工技術(shù) 點(diǎn)擊量 | 9016
百特 涂料 粒度儀 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
導(dǎo)讀:對(duì)于粉體顆粒的長(zhǎng)徑比的定義是:經(jīng)過(guò)顆粒內(nèi)部的最長(zhǎng)徑,和與它相垂直的最長(zhǎng)徑之比

對(duì)于粉體顆粒的長(zhǎng)徑比的定義是:經(jīng)過(guò)顆粒內(nèi)部的最長(zhǎng)徑,和與它相垂直的最長(zhǎng)徑之比,如下圖所示:

D1:D2=長(zhǎng)徑比

 

此參數(shù)是表述針狀粉體顆粒形貌的重要參數(shù),用以判斷針狀粉體的性能具有較大的實(shí)用價(jià)值。

 

我們以最常見(jiàn)的針狀粉體材料——硅灰石為例加以介紹。高附加值、深加工的硅灰石粉體最主要技術(shù)指標(biāo)就是長(zhǎng)徑比。高長(zhǎng)徑比硅灰石(15∶1~20∶1)主要是作為增強(qiáng)功能填料,用于涂料、塑料和橡膠中以提高硬度、彎曲強(qiáng)度和撞擊阻力,同時(shí)也可改進(jìn)塑料電學(xué)性質(zhì),提高其熱穩(wěn)定性,增強(qiáng)抗腐蝕性和提高耐磨性。高長(zhǎng)徑比硅灰石還可替代石棉用于生產(chǎn)摩擦材料和絕緣材料。盡管國(guó)內(nèi)外對(duì)高長(zhǎng)徑比硅灰石的需求量愈來(lái)愈多,加工的企業(yè)技術(shù)不斷提高,但是目前國(guó)內(nèi)外仍然沒(méi)有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)測(cè)定硅灰石粉的平均長(zhǎng)徑比,國(guó)際上最大的硅灰石公司NYCO公司,也沒(méi)有公開的測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)內(nèi)有某些文獻(xiàn)提及用圖像分析方法探討測(cè)定硅灰石平均長(zhǎng)徑比,但都不是系統(tǒng)研究,也沒(méi)有形成意見(jiàn)較為統(tǒng)一的硅灰石長(zhǎng)徑比測(cè)試國(guó)家或者行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。總體而言,早期常用的長(zhǎng)徑比測(cè)試手段,基本都是使用拍攝的靜態(tài)針狀粉體圖片通過(guò)手工或者軟件智能識(shí)別技術(shù)得到長(zhǎng)徑和短徑數(shù)據(jù)后計(jì)算出長(zhǎng)徑比。這種方法最大的局限性有兩點(diǎn),一個(gè)是取樣量小,受人為主觀影響大。這是因?yàn)槭鞘止づ臄z顆粒圖像,效率低且個(gè)人主觀意見(jiàn)決定了圖像的截取區(qū)域,要保證較大的采樣率工作量極大。二是常規(guī)顯微技術(shù)下拍攝的靜態(tài)針狀粉體圖片并不能保證針狀粉體有序的按照長(zhǎng)徑方向排列。獲得的顯微圖像無(wú)法有效保證長(zhǎng)徑和短徑的數(shù)據(jù)真實(shí)性。

 

針對(duì)靜態(tài)圖像測(cè)量技術(shù)在長(zhǎng)徑比測(cè)試上的局限性,業(yè)內(nèi)專家一直在探索更好的長(zhǎng)徑比測(cè)量方法。最終,帶鞘流技術(shù)的動(dòng)態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng),成為了長(zhǎng)徑比測(cè)試的首選設(shè)備。目前這種測(cè)量針狀顆粒長(zhǎng)徑比的技術(shù)已經(jīng)很成熟了。

 

所謂鞘流技術(shù)最初開發(fā)出來(lái)是應(yīng)用在血球計(jì)數(shù)器上的。為了避免計(jì)數(shù)中血細(xì)胞從小孔邊緣處流過(guò)及湍流,渦流的影響,發(fā)明了鞘流技術(shù)。具體做法是用一毛細(xì)管對(duì)準(zhǔn)小孔管,細(xì)胞混懸液從毛細(xì)管噴出,同時(shí)與四周流出的鞘液一起流過(guò)敏感區(qū),保證細(xì)胞混懸液在中間形成單個(gè)排列的細(xì)胞流,四周被鞘液圍繞。該項(xiàng)技術(shù)也應(yīng)用在動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析系統(tǒng)中,用以實(shí)現(xiàn)針狀顆粒同向排隊(duì)通過(guò)成像區(qū),從而實(shí)現(xiàn)了針狀粉體按照長(zhǎng)徑方向有序排列的目標(biāo)。將有序排列的針狀顆粒利用數(shù)碼設(shè)備拍攝下來(lái),通過(guò)軟件自動(dòng)識(shí)別顆粒長(zhǎng)短徑,從而精確測(cè)量長(zhǎng)徑比。這種方法克服了靜態(tài)圖像顆粒分析系統(tǒng)因顆粒交叉、非水平狀態(tài)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)失真,同時(shí)實(shí)時(shí)的動(dòng)態(tài)圖像捕捉和數(shù)碼攝像技術(shù)的應(yīng)用,自然而然的解決了取樣量和取樣人為主觀誤差問(wèn)題,使長(zhǎng)徑比分析變得簡(jiǎn)便易行和具有很高的準(zhǔn)確性。

 

據(jù)可靠消息,國(guó)內(nèi)粉體物性檢測(cè)設(shè)備知名企業(yè)丹東百特公司的動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析系統(tǒng)就具備了應(yīng)用鞘流技術(shù)測(cè)試長(zhǎng)徑比的功能。以百特公司為典型代表的國(guó)內(nèi)粉體物性檢測(cè)儀器設(shè)備企業(yè)的產(chǎn)品開發(fā),在近幾年已經(jīng)逐步從仿制改進(jìn)階段過(guò)度到了自主研發(fā),開拓創(chuàng)新階段。納米粒度儀、PM2.5大氣粉塵污染物檢測(cè)儀器、大量程激光粒度儀等新產(chǎn)品層出不窮。這是我們民族粉體行業(yè)的福音,也代表著中國(guó)粉體技術(shù)企業(yè)的脊梁。相信各位粉體圈同仁,只要保持著一顆銳意進(jìn)取的雄心,就能夠在中國(guó)的粉體圈內(nèi)撐起屬于自己的一片天地。 

 

(粉體圈 作者:敬之)


作者:粉體圈

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