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T/CASAS 026-2023 碳化硅少數載流子壽命測定微波光電導衰減法

發布時間 | 2024-01-04 17:33 分類 | 行業標準 點擊量 | 811
碳化硅
導讀:本文件描述了用微波光電導法測定碳化硅少數載流子壽命的方法。 本文件適用于少數載流子壽命為20 ns~200 μs 的碳化硅晶片的壽命測定及質量評價。

標準編號:T/CASAS 026-2023

標準名稱:碳化硅少數載流子壽命測定微波光電導衰減法

起草單位:山東大學、廣州南砂晶圓半導體技術有限公司、瀚天天成電子科技(廈門)有限公司、廣東天域半導體股份有限公司、泰科天潤半導體科技(北京)有限公司、杭州海乾半導體有限公司、安徽長飛先進半導體有限公司、中國科學院半導體研究所、中電化合物半導體有限公司、北京第三代半導體產業技術創新戰略聯盟。

發布單位:北京第三代半導體產業技術創新戰略聯盟標準化委員會(CASAS)

發布日期:2023-06-19

實施日期:2022-06-19

作者:粉體圈

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