GB/T 42676-2023 半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法

發布時間 | 2024-12-18 16:19 分類 | 行業標準點擊量 | 807

導讀：本文件按照GB/T1.1-2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結構和起草規則》的規定起草

標準編號：GB/T 42676-2023

標準名稱：半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法

起草單位：中國電子科技集團公司第四十六研究所,有色金屬技術經濟研究院有限責任公司、北京通美品體技術股份有限公司、山東有研半導體材料有限公司、弘元新材料(包頭)有限公司、哈爾濱科友半導體產業裝備與技術研究院有限公司、浙江海納半導體股份有限公司、國標(北京)檢驗認證有限公司、丹東新東方品體儀器有限公司、有研國晶輝新材料有限公司、江蘇卓遠半導體有限公司、新美光(蘇州)半導體科技有限公司。

歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)和全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)

發布日期：2023-08-06

實施日期：2024-03-01