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周騖教授:微納米顆粒的圖像法測試技術與新儀器介紹(報告)

發(fā)布時間 | 2024-12-25 09:35 分類 | 行業(yè)要聞 點擊量 | 895
論壇 磨料
導讀:12月26-28日,粉體技術分會將在珠海舉辦“2024全國粉體檢測與表面修飾技術交流會(第八屆)”,會上上海理工大學能源與動力工程學院周鶩教授將帶來題為“微納米顆粒的圖像法測試技術與新儀器介紹”...

事關產品質量、生產效率、設備性能及環(huán)境影響等諸多方面,粉體顆粒的粒度、粒形、濃度和速度等參數(shù)的在線、原位和快速測量在化工、建材、能源、食品等諸多領域廣受關注。在線實時測量能夠及時調整生產,減少人為誤差,是優(yōu)化工藝參數(shù),減少質量事故、停機時間的重要甚至必要技術。


相比傳統(tǒng)光散射、電阻法等技術,圖像法測試技術的主要優(yōu)勢在于可以同時測量粒度和粒形,能夠提供形態(tài)(如圓形度、長徑比)等詳細信息,隨著近年來拍攝硬件和圖像處理軟件水平提升,過去的對焦、分辨率、算法等短板得到顯著提高。相關技術進步在具體行業(yè)的測試中得到了深入的應用研究,測量對象覆蓋磨料顆粒、建材顆粒、固/液顆粒污染物、氣液兩相流液滴等等,粒徑范圍從納米到微米甚至毫米級別。

上述新技術的集成和商業(yè)開發(fā),不僅提升了現(xiàn)有檢測儀器的功能和性能,還開拓了許多新的應用場景和服務模式,對于科學研究、工業(yè)生產和日常生活都有著深遠的影響。12月26-28日,粉體技術分會將在珠海舉辦“2024全國粉體檢測與表面修飾技術交流會(第八屆)”,會上上海理工大學能源與動力工程學院周鶩教授將帶來題為“微納米顆粒的圖像法測試技術與新儀器介紹”的報告,報告重點介紹了基于光學圖像傳感器件發(fā)展的多種顆粒參數(shù)測量的方法以及相關技術應用,主要包括:1)偏振圖像動態(tài)光散射法納米顆粒粒徑和粒形原位測量;2)靜態(tài)光散射法顆粒污染物濃度在線監(jiān)測;3)離焦圖像法微米顆粒多參數(shù)三維場在線檢測;4)彩色圖像法微米顆粒顏色分析。該報告尤其對粉體材料開發(fā)和應用,保持企業(yè)競爭力都非常重要。

報告人簡介


周騖:上海理工大學能源與動力工程學院教授、博導。主要從事顆粒與兩相流測量方法研究,包括三維流場測量、三維噴霧場測量、顆粒污染物監(jiān)測、納米顆粒原位表征等。主持國家科技重大專項專題、國家重點研發(fā)計劃子課題、國家自然科學基金面上和青年項目等,參與重大科研儀器設備研制專項。發(fā)表SCI論文30余篇,授權發(fā)明專利8項。研究成果先后獲上海市技術發(fā)明獎二等獎、中國顆粒學會自然科學獎一等獎、中國計量測試學會科學技術進步獎二等獎、中國儀器儀表學會科學技術獎一等獎等。目前任中國顆粒學會理事、中國計量測試學會多相流測試專業(yè)委員會秘書兼委員、中國工程熱物理學會多相流分會青年工作委員會委員、《Particuology》青年編委、《Measurement》副編輯、TC168/SC1全國標準化技術委員會委員、國際標準化組織 TC24/SC4工作組專家。

 

珠海粉體檢測論壇會務組

作者:粉體圈

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