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萬里行|安科慧生:X射線熒光光譜儀能看清材料成分,也能測涂布層面密度/厚度

發布時間 | 2025-08-27 11:10 分類 | 企業專訪 點擊量 | 232
導讀:?在“粉體工業萬里行”的本站行程中,我們走進了北京安科慧生科技有限公司(下文簡稱:安科慧生)。作為一家專注于X射線熒光光譜儀研發與應用的企業,安科慧生正在通過快速、無損、多元素的檢測手...

在先進材料的應用中,性能往往取決于細微的差異。材料元素組成比例的輕微偏差,可能讓產品特性大打折扣;結構或分布的不均勻,也可能導致性能失衡。這類挑戰廣泛存在于成分與工藝控制要求嚴苛的行業——先進陶瓷、功能涂層、新能源電池,莫不如此。對于企業而言,如何在有限時間內獲得可靠的檢測數據,已經成為研發與生產的共同痛點。既要快,又要準,還要貼近實際工藝條件。

在“粉體工業萬里行”的本站行程中,我們走進了北京安科慧生科技有限公司(下文簡稱:安科慧生)。作為一家專注于X射線熒光光譜儀研發與應用的企業,安科慧生正在通過快速、無損、多元素的檢測手段,幫助產業解決那些看似細微卻至關重要的檢測難題。


萬里行團隊與安科慧生教授級高工李桂蘭老師合影

一、XRF:讓元素成分“看得見”

X射線熒光(XRF)是指物質在X射線照射下,原子被激發后釋放出的、具有特征能量的X射線。其能量與入射射線無關,只取決于元素原子殼層電子能級之間的差異,因此具有唯一性,就像元素的“指紋”,因此被稱為該元素的特征X射線,也常稱為X熒光或熒光X射線。X射線熒光光譜儀正是基于這一原理,通過采集并分析這些“指紋式”的特征X射線光譜及其強度,來確定材料的元素組成及其含量。

二、安科慧生的核心技術

1、全聚焦型雙曲面彎晶

在傳統XRF檢測中,連續譜在樣品上的散射會抬高背景,掩蓋弱小特征峰,限制了微量元素的檢出。為解決這一難題,安科慧生在光學系統中引入了全聚焦型雙曲面彎晶。這種Johansson型雙曲面彎晶可對光管射出的X射線進行單色化和高效聚焦:既過濾掉連續譜、降低背景干擾,又將光斑收縮到幾十至數百微米,提高激發效率。由此顯著改善了信噪比,提升了微量元素的檢出能力。


代表產品:擁有90位機器人進樣單元的MEGREZ-α

安科慧生雙源單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀

2、全息基本參數法

在XRF的定量分析中,除了背景干擾,基體效應(不同元素間的吸收和增強作用)同樣是導致結果偏差的主要原因。傳統方法往往依賴大量標準樣品來修正,但這不僅成本高,而且在復雜材料中仍難以保證準確性。為減輕這種依賴,研究者提出了 基本參數法:通過物理參數庫和數學模型來刻畫X射線從激發到探測的全過程,用計算去校正基體效應,并逐步替代標準曲線,從而實現“無標定量”的目標。然而,不同廠家的基本參數法水平差異較大,實際效果參差不齊。

安科慧生在成熟的基本參數庫和理論公式基礎上,結合大量XRF物理實驗,自主開發出一系列先進數學模型,歷經十余年推出了全息基本參數法(Holospec FP? 2.0),并于2019年實現商業化。Holospec FP? 2.0引入了完整的物理過程建模和全譜擬合,更精準地修正了基體效應與譜線重疊,減少對標樣依賴,并在保證高效運算的同時,使主量與痕量元素的同步定量更為可靠。


全息基本參數法(Holospec FP?)軟件頁面

通過光學與算法的雙重突破,安科慧生不僅解決了“看得見”的問題,更讓結果“看得準”。

三、應用價值:從成分分析到面密度測試

1.成分分析:配方與質量的基礎

在材料研發中,XRF能快速確認元素組成,為配方優化提供依據;在生產中,它能監控雜質水平,確保產品穩定性。無論是礦石、金屬粉體,還是陶瓷原料、功能材料,成分檢測都是不可或缺的一環。

應用場景:

礦石與冶金:快速判斷鐵礦、鋁土礦、鎂砂等原料的主量元素含量,指導選礦與配料。

陶瓷與粉體材料:監測雜質元素(如 Fe、Ti、Ca)的水平,避免影響燒結性能與最終性能。

新能源材料:在正極、負極及電解質材料開發中,XRF能用于追蹤元素配比(如Ni/Co/Mn、P/Fe),輔助研發效率。

得益于高靈敏度光學設計和全息基本參數法,安科慧生的XRF儀器單次檢測時間通常在30秒到15分鐘之間。這種分鐘級的效率,使其既能滿足研發環節的精確分析,又能貼近生產線的實時把控。

2.涂布層面密度及厚度:工藝控制的關鍵

在功能涂層和新能源電池電極等應用中,涂布層的均勻性與面密度直接決定性能表現。以電池極片為例,面密度過高可能導致容量不均、循環壽命下降;過低則會造成能量密度不足。而在功能涂層中,面密度的波動會影響光學反射率、耐蝕性、耐磨性或絕緣性能,直接關系到產品穩定性。

XRF能通過熒光信號強度與基體吸收的關系,直接測定涂布層面密度,無需剝離、切片等破壞性操作,更快更直觀,尤其適合生產環節的質量監控。與此同時,在一定條件下,面密度數據還能進一步換算成涂層厚度,為工藝優化和質量評價提供更多維度的參考。特別值得一提的是,安科慧生推出的帶鏡頭的XRF產品,不僅能檢測面密度,還能實現測試區域的可視化定位。通過鏡頭觀察和軟件標定,用戶可以精準選擇測量點,避免因樣品表面不均或操作偏差帶來的誤差,讓檢測結果更加可靠。


相關產品:微區高靈敏度X射線熒光光譜儀

應用場景

光學鍍膜:檢測反射膜、濾光膜厚度一致性,保證光學性能。

防腐/耐磨涂層:監控金屬或陶瓷表面涂層的均勻性,提升使用壽命。

電子元器件涂層:如導電膜、絕緣膜,XRF可快速判斷厚度與面密度是否達標。

新能源電池極片:正極/負極漿料的涂布面密度控制,保證能量密度與一致性。

小結:

在先進材料競爭愈發激烈的今天,看得清、看得準、看得快,正在成為企業質量與研發的硬核競爭力。而安科慧生,正是在這條路上,為產業提供值得信賴的解決方案。

 

粉體工業萬里行

作者:粉體圈

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