眾多周知，面粉和水泥都是粉體，其顆粒尺寸也可以相近，然而兩者顯微結構、顆粒形貌、與化學成分等差異巨大并不能互相代用，可見研究粉體材料遠不能只研究顆粒尺寸及其分布。粉體材料的顯微結構及其顆粒形貌與粉體材料的性能有著密不可分的關系，而粉體材料的顯微結構、顆粒形貌又受到化學成分及工藝的影響。因此研究粉體材料的顯微結構、顆粒形貌、化學成分等對指導粉體材料的研發及生產與性能控制有著極為重要的意義。此外，對于一些特定的領域，其對粉體材料中的雜質品種也有所要求，因此快速的判斷粉體材料中的雜質元素對于生產過程及研究過程也是極為重要的。

通過在微-納米尺度對材料的“工藝-顯微結構-性質”的關聯研究，電子顯微學使人們對材料的理解發生了革命性的變化，掃描電鏡及能譜儀在陶瓷、能源、碳材料、復合材料等諸多領域中也日益普及，利用二次電子像、背散射電子像及X射線能譜圖，可得到材料的形貌、物相平均原子序數及元素信息，這些信息在材料的研究、生產及檢測中發揮著重要作用。通過對無機材料顯微結構圖與工藝、性能的關聯分析，可以無機材料的科研與生產提供關鍵依據。

“二次電子像”用于材料的表面結構觀察

樣品：Fe₃O₄粉

背散射電子像（BSE）：表征材料表面元素分布

材料：某高熔點五金屬碳化物

EDS  Mapping圖：可表征各元素于觀察樣品表面分布情形

樣品：Pr-ZrSiO₄色料及(Pr，Ce)-ZrSiO₄

在即將開始的“2018全國粉體檢測與表面修飾技術創新論壇”我們將邀請華南理工大學張大同教授為大家分享題為“粉體材料電鏡報告解讀及對研發和生產的指導意義”的報告。作為從事電子顯微分析工作近40年的“Old driver”，張大同老師有著極為豐富的材料顯微分析實戰經驗，做過無數的材料分析案例。圈內朋友們如有顯微分析工作的啥疑難雜癥千萬不要錯過此次認識張教授的機會了呦。12月24日，讓我們一起跟著張老師的“微觀世界之眼”電鏡走進材料的微觀世界，一起深度探索材料的“工藝-顯微結構-性質”。

圖：電鏡室偷拍“三老同框，合計240多歲”

左邊是華工1965年第一臺電鏡操作技術員，陳永鏗；右邊是材料與機件失效分析專家李祖鑫。中間是從事電子顯微分析工作近40年的張大同教授（報告人）。

報告人簡介：

張大同，教授，享受國務院津貼專家，1965年畢業于清華大學精密儀器系，1982年組建華南理工大學測試中心，著有《掃描電鏡與能譜分析技術》一書及《Scanning electron microscope and X ray Microanalysis》譯作，從事電子顯微鏡教學及檢測近40年，起草多項國家標準，大型科研儀器設備論證專家。

圖：張大同教授的著作及譯作封面圖

左邊專著相信很多人很熟悉，右邊譯本強烈推薦閱讀，據說至今找不到比右邊譯本更好的中文版掃描電鏡教材。

粉體圈 編輯：小白