(1)篩分法：

優點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于40μm的樣品。

缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

(2)顯微鏡(圖像)法：

優點：簡單、直觀，可進行形貌分析，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10：1)的樣品。

缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1μm的樣品。

(3)沉降法(包括重力沉降和離心沉降)：

優點：操作漸變，儀器可以連續運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較廣。

缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣。

(4)電阻法：

優點：操作簡便，可測顆粒數，等效概念明確，速度快，準確性好。

缺點：不適合測量小于0.1μm的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

(5)激光法：

優點：操作簡便，測試速度快，測試范圍廣，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。

缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高，分辨力低。

(6)電子顯微鏡法：

優點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進行形貌和結構分析，缺點：樣品少，代表性差，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴。

(7)光阻法：

優點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數，分辨力高。

缺點：不適用粒徑小于1μm樣品，進樣系統比較講究，僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量，對一般粉體用的不多。

(8)透氣法：優點：儀器價格低。不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布；不能測小于5μm細粉。

(9)X射線小角散射法：用于納米級顆粒的粒度測量。

(10)光子相關譜法(動態光散射法)：用于納米級顆粒的粒度測量。