在粉體材料領域，對于顆粒大小的描述絕非是一件易事，有人告訴你他的粉體是10微米的，你首先想到的是什么？是單分散的10微米的球形顆粒嗎？顯然在工業應用領域幾乎是不可能的。那指的是D50=10微米，還是D90=10微米呢？還是最大邊際顆粒（雖然沒有辦法實際測試）是10微米呢？其實，還忽視了重要的前提，10微米是怎么測試得來的呢？篩分法？激光散射法還是圖像法？限定條件不同，這個10微米的表達的含義就會相差甚遠。

粒度測試“橫看成嶺側成峰”的源頭一：等效粒徑

粉體工業領域，幾乎是不存在理想的球形顆粒的，那么想要表達顆粒的粒徑，就需要用到等效粒徑的手段。先拿棱長為10的正方體顆粒來看，如果按照篩分的方法來描述會得到17.3，如果用投影的方法來描述是11.28微米，這樣的結果差別就會很大。

粒度測試“橫看成嶺側成峰”的源頭二：等效平均粒徑

近日，國內粒度儀廠家丹東百特的工程師發文對圖像法與激光衍射法測定粒徑結果差異分析對比。為了方便，作者選取了3個理想的球形顆粒。

假定有3個直徑分別為1、2、3的球體顆粒，不同測量原理的儀器將會采用不同的方法來計算平均粒徑。

電鏡下的球形硅微粉

電鏡法：通常用帶有標尺的格子線來測量顆粒直徑，然后把它們加在一起再除以總的數量而得到數量-長度平均D[1,0]：

丹東百特BT-2900LD圖像法儀器拍攝的顆粒

 圖像法：通常測量每個顆粒的面積，加起來再除以顆粒的數量而得到數量-面積平均D[2,0]：

激光衍射法：通過測量顆粒群的散射光強分布，可得到顆粒的體積平均粒徑 D[4,3]：

可見就等效平均粒徑而言，無論選擇哪種方式，都只是從一個角度的表達了粉體的等效粒徑的狀態。具體如何選擇哪種測試方式，需要與自己的產品的應用性能相結合，因為只有使用性能良好的產品，才是有市場競爭力的。

粒度測試“橫看成嶺側成峰”的源頭三：二次粒徑問題

除了上述的等效粒徑問題，粒度測試的煩惱還有二次粒徑的問題。當顆粒非常小的時候，由于顆粒表面能較大，顆粒之間容易由于弱的相互作用力結合在一起，導致團聚，形成更大二次顆粒。通常我們把單個的細小顆粒的粒徑叫作一次粒徑，也叫原始粒徑，而把發生團聚后形成的二次顆粒的粒徑叫做二次粒徑。

納米碳酸鈣電鏡圖片，居然是用了20微米的標尺

納米碳酸鈣從業者經常會遇到一個問題，生產的納米碳酸鈣無論如何在激光粒度儀的結果都是微米級的，甚至可以接近10個微米。在電鏡下觀察就會發現，這些碳酸鈣納米顆粒是團聚在一起的，雖然激光粒度儀在測試過程中有使用分散劑，再加上超聲波分散，依然難以徹底打開團聚，所以我們只能測試到二次粒徑，對于原始粒徑只能從高清電鏡圖片中去辨別。

總之，粒度測試的目的是產品質量的控制和上下游數據的傳遞。因此，遵守行規非常重要。選擇行業內通用方式，就會有效地減少誤解。簡單點講，雖然粒度測試是“橫看成嶺側成峰”，看“嶺”不要和看“峰”的較勁。不然，當你看到在磨料行業，等效平均粒徑D3總是比D94大的時候，你也一樣會迷茫。據了解，好像只有這個行業采用了，粒徑分布是從大到小的順序累計的。

粉體圈 作者：敬之