粒度測試和表征是粉體工業(yè)上下游最關(guān)切的檢測項目之一，它是優(yōu)化生產(chǎn)過程和進行質(zhì)量控制的好幫手，輸出的粒度報告則往往是決定生產(chǎn)端和應(yīng)用端能否達成合作的重要依據(jù)。激光粒度儀測量快、范圍廣、操作簡便，還有分辨率和重復(fù)性好等優(yōu)點，但也存在受各種環(huán)境和自身因素影響導(dǎo)致的準確性等問題，就比如不同儀器品牌甚至相同品牌不同型號儀器的測試結(jié)果偏差問題。

張福根博士是中國顆粒學(xué)會原副理事長、中國顆粒學(xué)會榮譽理事、全國顆粒表征標準化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學(xué)兼職教授，我國研究激光粒度儀的專家學(xué)者，國產(chǎn)激光粒度儀商業(yè)化的先行者，如今也是真理光學(xué)的董事長和首席科學(xué)家。粉體圈小編來到珠海真理光學(xué)儀器有限公司參觀學(xué)習(xí)，非常有幸邀請到張福根博士為廣大用戶講解一些關(guān)于激光粒度儀應(yīng)用的常見問題。

Q1：張博士，您好！針對亞微米粉體的測試，我們知道可以使用納米粒度儀和激光粒度儀，您認為兩者是屬于一個什么樣的關(guān)系，是互補還是可以替代呢？

A1：實際上，針對亞微米顆粒的測量，這兩種儀器的難點并不在于是替代還是互補。我們通常認為0.1微米以上至1,000微米以下的是亞微米，那在這個范圍內(nèi)，質(zhì)量好一點的激光粒度儀或納米粒度儀都能很好的完成測量任務(wù)。就這兩種儀器而言，真正有難度的地方在于對寬分布樣品的測量。比如，有一種樣品，它是從0.1微米一直分布到1,000微米。那在面對寬分布樣品的測量時，這兩種儀器目前都測得不好。如果對稍微粗一點的樣品進行測量，比如說0.3微米以上的樣品，那么激光粒度儀就比納米粒度儀更便于使用。我們這里說的納米粒度儀是以動態(tài)光散射為工作原理的，它不管樣品粒徑小或大，還是寬分布的，測量的結(jié)果均不理想。如果用戶提供的樣品顆粒比較粗，在0.1微米以上，那么就不需要使用納米粒度儀，用衍射法儀器就可以完成測量。但是如果樣品非常小，比如說100納米以下，那么只能用動態(tài)光散射儀器。雖然有的廠家就號稱，他的測量下限能測到10個納米，但負責(zé)任地說這是假的。

Q2：目前在一些應(yīng)用領(lǐng)域，許多激光粒度儀的客戶可能會選擇國外的一些品牌，那針對這一現(xiàn)象，您認為有什么樣的一個破局的方法，如何才能有效提升我們國家在這方面的市場占有率呢？

A2：首先，我覺得我們還是要盡力把我們的國產(chǎn)激光粒度儀做好。在我看來，國內(nèi)目前比較頂尖的幾家激光粒度儀，在質(zhì)量上跟國外的儀器相比是不差的，甚至在某些指標上，我們做的比國外的還要好。但是由于客戶的使用習(xí)慣或長期以來已經(jīng)形成國外的產(chǎn)品就是好產(chǎn)品的觀念，面對這種情況，我們就需要慢慢的讓客戶改變，在做好產(chǎn)品的情況下，客戶使用了我們的儀器，覺得用的也不差，那么自然會慢慢的多用國內(nèi)的激光儀。

Q3：您認為當前激光粒度儀行業(yè)應(yīng)用的難題有哪些呢？

A3：我覺得現(xiàn)在應(yīng)用問題對激光粒度儀來說是最大的難題，因為不同品牌的激光粒度儀或是同一家品牌不同型號的激光粒度儀之間測量結(jié)果會存在不一致的情況。

Q4：您認為未來激光粒度儀產(chǎn)品的發(fā)展方向大概是什么樣的呢？

A4：首先，我覺得截至目前激光粒度儀這個產(chǎn)品是不成熟的，盡管它現(xiàn)在在工業(yè)、科學(xué)研究領(lǐng)域是一個很主流儀器，使用的非常的廣泛，但是不同品牌的儀器，甚至同一種品牌不同型號的儀器測量結(jié)果會不一致。出現(xiàn)這一現(xiàn)象的本質(zhì)原因，就是激光粒度儀本身技術(shù)不完善。我這里舉一個大家都覺得很有名的、認為是權(quán)威的，國外某品牌儀器的例子來說明這問題。這個品牌的儀器在粒度分析結(jié)果上有兩種不同的分析模式，針對相同的樣品或相同的原始測量數(shù)據(jù)，如果用不同的分析模式去測量，會得出不同的結(jié)果。比如，使用單峰模式只能得到單峰的結(jié)果，哪怕你的樣品是多峰的，它得到也只會是個單峰的結(jié)果。但是廠家會告訴用戶，我的單峰模式只是測量單分散的標準樣，如果需要測普通的樣品，就需要使用通用模式。那反過來，如果我使用通用模式測得的標準樣品，測出來的結(jié)果幾乎全部是錯的，錯的最多的地方，就是使用它通用模式測出來的粒度分布的寬度，比實際的寬度要寬。單分散的標樣實際上沒那么寬，更嚴重的是，比如說3微米的標樣或0.4微米的標樣，明明是一個單分散的樣品，它如果用通用模式測出來的就是雙峰的，它變成兩個峰的，完全不符合實際。那這樣客戶就會問你一個問題，使用你的多峰模式測標準樣都測的不對，你用什么來證明，測普通樣品的結(jié)果是對的？那他是沒辦法回答這個問題。反過來，也就說明這個儀器不完善，它是自相矛盾的。那么既然連這么有名的品牌，他產(chǎn)品都是不完善的，更何況其他品牌呢？我們真理光學(xué)在這方面是做了很深入的研究的，我們知道出現(xiàn)這些不一致的原因是什么，那么就希望整個行業(yè)大家都一起努力，把這儀器做好。

視頻版采訪

謝謝張福根博士本次精彩講解，告訴意猶未盡的朋友們一個好消息，他還將作為報告嘉賓出席粉體圈于12月26-28日舉辦的全國粉體檢測與表面修飾技術(shù)交流會，屆時張博士將在會上為我們大家作更多的分享，敬請期待！

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