2024年10月25-28日，蘇州召開第十三屆中國顆粒大會期間，真理光學(xué)舉行PATlink系列在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)新品發(fā)布儀式。真理光學(xué)開發(fā)出哪些新技術(shù)，又解決了業(yè)界哪些老問題，粉體圈通過現(xiàn)場采訪和信息收集為用戶求解。

測量范圍：1-3000μm

PATlink3000是真理光學(xué)繼2021年發(fā)布PATlink1000后對粉體工業(yè)實時在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)的全新升級，最突出的亮點在于極大加強了大顆粒測量能力，最大粒徑從原來的1000μm提升到3000μm。這次升級直接利好對較大顆粒或顆粒聚集體有測量需求的用戶，儀器具備更廣泛適用性也意味著提升了其在不同行業(yè)的應(yīng)用潛力。設(shè)備升級背后其實是測量技術(shù)的升級，通過發(fā)布現(xiàn)場對真理光學(xué)董事長張福根博士的采訪我們獲悉，真理光學(xué)在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)的特點主要基于對窗口保護、樣品稀釋分散和取樣三大方向的改進提升。

一、窗口保護

液體鞘流保護技術(shù)（發(fā)明專利：ZL201910698536.8），顧名思義是一種激光粒度儀濕法測量技術(shù)，它利用不會干擾測量的保護液流包圍含有待測顆粒的主液流形成一個保護鞘，以此防止顆粒直接接觸繼而沉積或粘附在測試窗口上。

該技術(shù)雖然是為需要持續(xù)、高效、高精度濕法在線系統(tǒng)而開發(fā)，但張博士表示它在今后對實驗室儀器的改造也大有好處——玻璃窗口污染是困擾濕法測量的世界性難題，尤其對于測量強度大，樣品數(shù)量多非常有影響，清洗窗口和光路調(diào)節(jié)都嚴(yán)重降低工作效率，甚至于導(dǎo)致測量誤差。

二、樣品稀釋分散

樣品稀釋分散是激光粒度儀測量高濃度樣品的前置，它主要用于樣品解聚，降低遮光效應(yīng)，以及減少多重散射，確保數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。濕法稀釋與控制單元（專利號：202422474457.8）可實現(xiàn)快速稀釋和分散高濃度樣品，

該單元集成了包括鞘流槽、進樣槽、前置稀釋器和分散劑罐等多個組件，同時還內(nèi)置了兩級獨立攪拌和管道式大功率超聲分散功能的樣品預(yù)處理裝置，其顯著特點是：稀釋比例可達(dá)1-10萬分之一，稀釋時間縮短至最多只需3mins，稀釋液總量約500mL，良好的分樣代表性，超強的分散能力。相比傳統(tǒng)方法，大幅減少用時也大量節(jié)省用水。 

三、取樣

與實驗室儀器相比，在線系統(tǒng)面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是取樣系統(tǒng)的設(shè)計，要保證取樣清潔無污染，有代表性，同時必須集成在生產(chǎn)線控制系統(tǒng)中實現(xiàn)自動化測量，往往不同的粉體生產(chǎn)場景須對應(yīng)不同的取樣器。真理光學(xué)開發(fā)設(shè)計了多種濕法和干法取樣器，滿足不同粉體生產(chǎn)工藝需要，其中的滑移式取樣器(專利號:202422474456.3)能夠?qū)崿F(xiàn)可靠定量取樣，對濕法測量有顯著提升。

面對高粘高濃樣品易團聚，高密度顆粒沉降，傳統(tǒng)泵吸式在線取樣往往出現(xiàn)代表性差，測量結(jié)果偏差問題。滑移式取樣器則可以滑動到達(dá)不同的取樣點取樣，是專門針對高濃度濕法研磨設(shè)備（例如，砂磨機）而開發(fā)的取樣器，富有新意而且能夠巧妙解決實際問題。

四、PATlink 在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)部分應(yīng)用場景

PAT系列在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)是真理光學(xué)基于多年積累的粒度表征技術(shù)及自動化過程控制技術(shù)開發(fā)的新一代實時在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)，粒度范圍涵蓋0.1μm至3000μm，適合干法和濕法的生產(chǎn)工藝過程，既可用于在線粒度測量，也可以用于現(xiàn)場手動取樣的粒度分析。PAT 系列具有穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)和先進的技術(shù)支撐，以滿足苛刻、復(fù)雜的過程工藝環(huán)境對連續(xù)粒度測量和控制的要求，被廣泛應(yīng)用于電池材料、水泥、面粉加工、粉末冶金、3D打印、制藥、先進陶瓷、拋光液、粉末涂料、色漿顏料等產(chǎn)品生產(chǎn)的粒度自動控制。

注：

PATlink 1000：濕法0.1-1000μm，干法0.2-1000μm

PATlink 3000：1-3000μm（干、濕法相同）

張福根博士詳談?wù)胬砉鈱W(xué)新品

關(guān)于真理光學(xué)

真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)與制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀,（動態(tài)光散射法）納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，從微米到納米，從濕法到干法，從實驗室到生產(chǎn)現(xiàn)場，真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供先進的高端產(chǎn)品和解決方案。

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