氧化鋁粉末作為功能性陶瓷的重要基礎材料，在電子、化工、能源等多個領域發揮著重要作用。其粒徑特性和表面電荷特性會直接影響陶瓷粉體的分散性、穩定性及燒結行為，繼而影響最終最終產品的性能。因此在陶瓷、拋光、電子材料、催化劑等產品的制備過程中，如何準確測量和控制粒徑及Zeta電位，優化粉體性能，成為行業關注的核心問題。

為了對大家在實際生產中測量氧化鋁粉體粒徑和zeta電位提供具有參考性的指導，在4月24-25日于河南鄭州舉辦的“2025年全國氧化鋁粉體與制品創新發展論壇（第九屆）”上，來自大塚電子（蘇州）有限公司的應用工程師費曉燕將主講題為《氧化鋁粉末制品研發和品控中的粒徑?Zeta電位測定》報告。

報告中，費曉燕工程師將圍繞粒徑及Zeta電位測量技術在氧化鋁粉末制品研發和品控中的應用展開，介紹最新一代粒徑及Zeta電位測量設備，解析光散射法測量的特點，并分享其在不同應用領域的研究案例，為陶瓷粉體的研發和生產提供技術支持。

報告將從以下幾個方面展開討論：

1、粒徑和zeta電位的測量原理及應用領域

顆粒的粒徑及Zeta電位決定了其比表面積、分散穩定性和燒結性能。報告將介紹光散射法（DLS）測量粒徑的基本原理，以及如何通過Zeta電位測量評估粉體的穩定性。

2、氧化鋁納米粒子在提高石油采收率方面的論文案例

報告將以氧化鋁納米粒子在石油行業的應用為例，解析其粒徑及表面電性如何影響油水界面性質，以及通過優化粒徑和表面改性提升采收率的方法。

3、陶瓷粉體的粒徑控制、Zeta電位與分散劑的關系

在氧化鋁粉體的多個應用領域，粉體的均勻分散是保證質量的關鍵。報告將分析粒徑及Zeta電位對陶瓷粉體分散性的影響，為產品制備過程提供實用指導。

4、晶圓硅片與研磨粒子的吸附及清洗條件

研磨工藝在半導體制造和精密陶瓷加工中至關重要。報告將研究研磨粒子在晶圓硅片表面的吸附機理，分析如何通過Zeta電位的檢測結果來調整清洗條件，提高清洗效果。

總之，如果您對以上議題感興趣，希望與行業專家就zeta電位檢測技術的進展及其在氧化鋁材料中的應用進行面對面的交流，歡迎點擊“閱讀原文”查看會議詳情及報名，我們期待與您相會！

關于報告人

費曉燕，現任大塚電子（蘇州）有限公司的應用工程師，從事基于激光的納米粒子評價設備的分析業務和應用實例制作業務，另外，以測量技術、應用實例等重點介紹為主，定期舉辦Webinar(網絡研討會)，致力于為客戶提供卓越的服務和支持，幫助他們實現產品研發和生產的成功。

鄭州氧化鋁論壇