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精微高博:(XRD)分析,讓粉體研發從“經驗試錯”走向“Know How”!

發布時間 | 2025-06-18 19:23 分類 | 行業要聞 點擊量 | 708
磨料 氮化硅 氧化硅 氧化鋁 磷酸鐵鋰
導讀:最近,北京精微高博儀器有限公司(精微高博)重磅推出了Lattice系列高功率X射線衍射儀,而了解X射線衍射(XRD)表征意義就知道,這將極大助力國內粉體工業整體水平的進步。

最近,北京精微高博儀器有限公司(精微高博)重磅推出了Lattice系列高功率X射線衍射儀,而了解X射線衍射(XRD)表征意義就知道,這將極大助力國內粉體工業整體水平的進步。


X射線衍射(XRD)在粉體材料分析中能夠精準識別物相(比如區分α-Al?O?與γ-Al?O?)并計算出各相含量,并可通過公式計算晶粒尺寸,動態監測(如煅燒)相變和結晶度變化等。具體實際應用更容易理解認識到其重大作用,比如:

拋光

憑借高硬度、穩定性等優點,α-氧化鋁磨粒被廣泛用于表面拋光。但是α-氧化鋁高溫煅燒轉晶不僅能耗大、成本高,而且由于晶粒生長和團聚,精細化制備小粒徑磨粒難度極高。相比之下,γ-氧化鋁硬度較低,轉晶溫度低有利于制備納米級磨粒,也不易發生團聚。綜上,對于高質量表面光潔度和嚴格公差要求的精密拋光應用,比如汽車漆面拋光中,高端拋光劑產品會將α相和γ相的氧化鋁進行復合設計,從而實現高效研磨與漆面保護的雙重目標。


80%α-氧化鋁/20%γ-氧化鋁的混晶氧化鋁磨料(來源:US Research Nanomaterials, Inc)

這兩種氧化鋁的晶型具有完全不同的晶體結構(α相為六方密堆積,γ相為立方缺陷尖晶石結構),其衍射峰位置(2θ角)和強度存在顯著差異,XRD分析就是區分α-Al?O?和γ-Al?O?的唯一直接手段——可用于確保配方中兩相比例符合設計。

陶瓷

氮化硅為例,α和β兩相是氮化硅最常見的晶型,而市售粉體原料幾乎都會強調α相含量,越高越好。原因何在? 


α氮化硅(左) β氮化硅(右)

β氮化硅為長柱狀結構,用作高溫涂層時(比如脫模劑),結合強度低,容易剝落,因此要求盡量降低其含量;還有α氮化硅粉體燒結時,存在α相向β相的相變過程,這種相變有利于顯微結構向嵌套結構發育,即大柱狀顆粒分布在小直徑的球狀顆粒中間,大柱狀顆粒通過橋聯、裂紋偏轉等效應來提高材料的斷裂韌性;而β相氮化硅粉末燒結時,就沒有了增韌效果,陶瓷的斷裂韌性較低。XRD分析在硅粉直接氮化法制備氮化硅中,除了區分α相和β相,還用于檢測殘留的未反應的硅粉以及生成的二氧化硅等雜質。

鋰電

XRD技術被廣泛應用于分析正極材料、負極材料和電解液等關鍵組件的晶體結構及相變行為。

——在NCM(LiNi?Co?Mn?O?)正極材料的原位XRD測試中,003峰的變化是監測材料結構穩定性的核心指標,直接關聯電池的電化學性能和安全性。如,峰位偏移即需要控制c軸膨脹以抑制顆粒破裂;峰強比降低可以量化陽離子混排指導摻雜/包覆;峰裂化/寬化提示相變和熱失控風險。


NCM 003峰原位變化

通過動態解析003峰,可精準優化其電壓窗口、元素組成及界面工程,推動電池能量密度與壽命同步提升。類似測試還可以用于鈷酸鋰,磷酸鐵鋰等正極材料。

——監測各項晶胞參數。NCM作為一種層狀氧化物,充放電循環下結構會發生變化。晶胞參數a反映過渡金屬層;晶胞參數c反映Li層脫嵌;晶胞體積則用于跟蹤整體膨脹/收縮和潛在的機械退化。


NCM各項晶胞參數變化

測試NCM晶胞參數a、晶胞體積、晶胞參數c的變化,通過不同電壓下的結構穩定性,可用于確定最佳摻雜或涂層策略以抑制不可逆畸變。

小結

從以上幾個案例管中窺豹,X射線衍射(XRD)分析技術無疑是推動材料設計從“經驗試錯”向“Know How”轉變的依仗,是粉體工業進步和企業構筑研發實力的重要基礎。但長期以來,由于技術壁壘和核心組件的高成本,進口品牌長期壟斷高精度XRD儀器市場,其高昂的價格使其在高校和科研院所的普及率也并不高,企業實驗室有實力配備的就更是鳳毛麟角。

當前,高質量發展已成為各行業面臨的課題。粉體工業在產業升級與國產替代浪潮下,高精度XRD正從高端科研工具蛻變為工業剛需裝備,精微高博適時推出Lattice系列,值得考察,值得擁有。

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粉體圈 啟東

作者:粉體圈

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