每一種粒度測試方法都是測量不同基準(zhǔn)下顆粒的某一物理特性，可以根據(jù)多種不同的方法得到不同的平均結(jié)果（如個數(shù)基準(zhǔn)下D[4,3]，D[3,2] 等），但是究竟實際使用時怎么樣選擇平均粒徑？

舉一個簡單的例子：兩個直徑分別為1和10的球體，對冶金行業(yè)，如果計算簡單的個數(shù)平均直徑，得到的結(jié)果是：D[1,0]=(1+10)/2=5.5。但是如果感興趣的是物質(zhì)的質(zhì)量，而質(zhì)量是直徑的三次函數(shù)，這樣，直徑為1的球體的質(zhì)量為1，直徑為10的球體的質(zhì)量為1000。也就是說，大球體占系統(tǒng)總質(zhì)量的99.9%。在冶金上即使舍去粒徑為1的球體，也只會損失總質(zhì)量的0.1%。因此，簡單的個數(shù)平均不能精確反映系統(tǒng)的質(zhì)量，而用D[4,3]能更好地反映顆粒的平均質(zhì)量。

在上述兩個球體的例子中，質(zhì)量矩體積平均徑計算如下：

該值能比較充分地表示系統(tǒng)的質(zhì)量，對某些行業(yè)非常重要。

但是對于一間制造大規(guī)模集成電路的潔凈房間來說，顆粒的數(shù)量或濃度就是最重要的了，因為若有一個顆粒落在硅片上，就將會產(chǎn)生一個疵點，產(chǎn)品就可能報廢。這時需要采用一種能直接測量顆粒的數(shù)量或濃度的方法。對于顆粒計數(shù)來說，記錄下顆粒個數(shù)就可以了，在此場合顆粒的大小反而顯得不重要了。

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