--訪丹東百特儀器有限公司研發部經理范繼來先生

在剛剛結束的IPB中國國際粉體展上，粉體圈作為唯一的戰略合作媒體，應主辦方邀請對幾家參展單位進行了采訪。這些單位涉足領域包括有粉體研磨、粒度檢測、物料輸送裝卸等，他們帶著最新的技術和產品，展示著專業領域里的拿手絕活，在粉體工業的調色板上涂抹著屬于自己的濃重色彩。

丹東百特篇

丹東百特儀器有限公司（以下簡稱百特）成立于1995年，是中國著名的粒度測試技術研發基地和專業的粒度儀器制造商。此次攜公司的圖像處理設備和激光粒度儀前來展會，接受粉體圈采訪的是公司研發部經理范繼來先生。

粗細端檢測技術升級帶來準確性提升

這次范經理在接受采訪時重點介紹了有關于粒度檢測的技術升級，這項新技術主要用來提升激光粒度儀的準確性。而粒度儀的準確性又要分別從上限端（粗顆粒）和下限端（細顆粒）來考量。范經理介紹在上限端百特結合了光阻法顆粒計數器的技術，“因為粗顆粒的投影面積相對較大，在光束中運動之后會使激光產生較大的衰減，通過這個衰減的量來判斷這個粗顆粒的大小，再經過測量統計得到的粒徑分布就會更準確”。

以往的技術，在粗端測量的時候，因為粗顆粒的波動信號比較大，測試軟件的濾波功能往往會把這方面的信號處理掉，這就造成了粗顆粒檢測不到的狀況。范經理提到，現在恰恰就是利用信號的波動性來判斷粗顆粒的大小與含量，這就能夠更好的保障粗端測量的準確性。至于下限端的測量，百特采用了一種“傾斜入射光路”，這種設計可以達到全角度散射光測量的效果，從而保證了下限端的測量精度。

采訪后記

對于百特本次參展的其中兩款儀器，動態圖像分析儀BT-2800和全自動激光粒度分析儀Bettersize2000，范經理從儀器采用的技術和適用范圍進行了介紹，詳情請觀看采訪視頻。接受粉體圈采訪之余，我們尤其感謝百特能夠不斷取得進步，由衷的祝福百特能夠隨著中國粉體工業一同走向更高的高度，更廣闊的世界舞臺。

（粉體圈 作者：敬之）