粉體圈主辦的歷屆“全國粉體檢測與表面修飾技術(shù)交流會”以及其他顆粒表征相關(guān)活動中，珠海真理光學(xué)儀器有限公司董事長張福根博士曾分享過“激光粒度儀最新研究進展”、“邊界粒徑的測試對粒度儀分辨率和靈敏度要求”、“粉體（漿料）中最大粒測量問題探討”、“不同激光粒度儀測試結(jié)果不一樣的原因探討”、“用激光粒度儀測量折射率未知顆粒的新方法”等含金量十足的報告，并以豐富的理論知識和實踐經(jīng)驗征服了大批粉絲。很多人都想知道張博士會為本屆會議帶來哪些精彩內(nèi)容，小編既沾了近水樓臺的光，當(dāng)然要提前拜訪和打探情報，也好向各位簡要匯報！

真理光學(xué)：亞微米和納米粒度檢測的疑難問題（報告）

甫一相見，話題便從量子力學(xué)的科普引申開去（此處略去三千字），直至與顆粒表征前沿技術(shù)接軌，小編才終于回過神（友情提醒，為了更好體驗本次報告，可提前預(yù)習(xí)量子力學(xué)相關(guān)基礎(chǔ)理論）。

是不是覺得壓力山大？！其實，為照顧到大多數(shù)與會聽眾，張博士此次報告主要將介紹動態(tài)光散射（DLS）和激光衍射（LD）兩大主流激光粒度測量原理（對應(yīng)儀器：納米粒度儀和激光粒度儀），并解答激光粒度儀是否能測30nm的顆粒，什么顆粒可以叫納米顆粒等一些或尖銳、或基礎(chǔ)的問題；結(jié)合當(dāng)前CMP拋光、導(dǎo)電漿料等熱度上升，科普關(guān)于Zeta電位的概念及其測試?yán)碚摵头椒ā槍Τ醮l譜分析（局限在于顆粒運動距離須大于光波長）和二代相位分析（局限在于受光強影響導(dǎo)致重復(fù)性差）的缺點，真理光學(xué)提出并申請了“余弦擬合”專利技術(shù)，它與時俱進地利用了量子力學(xué)前沿技術(shù)成果，擺脫光源問題困擾，從而滿足測試靈敏度和重復(fù)性要求。

“神奇的量子力學(xué)就蘊含在納米顆粒的粒度測量技術(shù)中”，張博士這句總結(jié)恰如其分，你以為呢？

報告人簡介

粉體圈小伙伴聽張福根博士講課

張福根博士是中國顆粒學(xué)會原副理事長、中國顆粒學(xué)會榮譽理事、全國顆粒表征標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學(xué)兼職教授，我國研究激光粒度儀的專家學(xué)者，國產(chǎn)激光粒度儀商業(yè)化的先行者，同時也是歐美克的創(chuàng)始人，真理光學(xué)的董事長和首席科學(xué)家。

粉體圈 啟東

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