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GB∕T 41153-2021 碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質(zhì)含量的測定 二次離子質(zhì)譜法

發(fā)布時間 | 2022-02-25 17:18 分類 | 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 點擊量 | 974
碳化硅
導(dǎo)讀:行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 41153-2021

標(biāo)準(zhǔn)名稱:碳化硅單晶中硼、鋁、氮雜質(zhì)含量的測定 二次離子質(zhì)譜法

起草單位:中國電子科技集團公司第四十六研究所、有色金屬技術(shù)經(jīng)濟研究院有限責(zé)任公司、山東天岳先進科技股份有限公司

歸口單位:全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分技術(shù)委員會(SAC/TC 203/SC2)

發(fā)布日期:2021-12-31

實施日期:2022-07-01


作者:粉體圈

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