日前，真理光學在其不久前推出納米粒度儀的基礎上增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能，推出了納米粒度及Zeta電位儀新品。

Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀

隨著國內粉體工業的迅速發展，對于顆粒物性參數的理解和應用也就越多。而Zeta電位測量應用廣泛，是表征膠體分散系穩定性的重要指標，以制藥為例，其對乳劑、混懸劑及脂質體等配方研究必須測量Zeta電位。真理光學此次推出新品，對于關注和需要顆粒表征的領域來說，意味著有了更多選擇；對于真理光學來說，則不僅僅是推出一款新儀器新產品，更意味著產品線的進一步完善，當然也是企業發展進入全新階段的開始。

筆者在粒度儀行業有工作經驗，以上認識正基于此。2010年前后，納米粒度分析系統依然處在國產儀器的真空區；就在不到兩年前，基于動態光散射技術和電泳法的國產納米粒度和zeta電位測量系統才突破國外技術壁壘。中國粉體工業的整體進步，很大程度上要歸功于國產激光粒度儀研發生產商的不斷進取。

以下是Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀 的詳細介紹及參數特點：

Nanolink S900是基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度分析系統，被廣泛應用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質等樣品的顆粒表征。SZ900在S900納米粒度測量功能的基礎上，增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能。

注：* 取決于樣品

Nanolink S900納米粒度分析儀技術特點包括:

◆ 經典90°動態光散射技術

◆ 粒徑范圍：0.6nm-10μm

◆ 新一代高速數字相關器，最小采樣時間25ns，動態范圍大于1011

◆ 集成光纖技術的軍品級PMT檢測單元（APD可選）

◆ 532nm 50mW大功率固體激光器，能量輸出自動調節

◆ 溫控范圍0℃-90℃，精度±0.1℃

◆ 冷凝控制-- 干燥氣體吹掃技術

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